科研儀器與耗材

第 1 到 12 筆。共 20 筆。
ezAFM Atomic Force Microscope
ezAFM是小型AFM系統,提供兩種不同的掃描頭。
堅固且靈活:可以簡單、安全的更換掃描頭,且每個系統提供不同掃描範圍、Z range和空氣/液體不同介質的掃描頭。 ...
ezAFM+ Atomic Force Microscope
ezAFM+是小型AFM系統,提供兩種不同的掃描頭,和ezAFM的差別為掃描模式的不同。
堅固且靈活:可以簡單、安全的更換掃描頭,且每個系統提供不同掃描範圍、Z range和空氣/液 ...
ezHEMS | Hall Effect Measurement System
ezHEMS 設備是全球使用的 HEMS(霍爾效應測量系統)設備的更便攜版本。由於系統設計的原因,永久磁鐵有兩種不同的磁場選項,可在標準系統中提供 0.6T 或 1T 的磁場。
該系 ...
ezSTM Scanning Tunneling Microscope
ezSTM產品體積小且穩定性高,在5分鐘之內就可設置完成,適合學生實驗室、奈米技術教育和基礎研究。
所有esSTM組件都包含在內(控制器、掃描頭、隔震裝置和筆電),測量軟體也由Nan ...
HEMS & LT-AC/DC | Hall Effect Measurement System
該系統設計提供了在高達2.5 Tesla的磁場下進行測量的可能性,結合低溫恆溫器,磁場高達16T。同時還提供了使用 2 個不同溫度測量頭在 3K-1273K 範圍內進行測量的機會, ...
hpAFM Atomic Force Microscope
hpAFM是一款先進的原子力顯微鏡,著重在最大限度地縮短時間來獲取最佳結果,無論在液體還是空氣的工作條件下都適合,他也擁有不同的功能,例如:免對準設計、閉環彎曲掃描儀、解耦Z掃描儀 ...
hpSPM Controller
使用先進FPGA based SPM控制器
Inspectis 4K顯微鏡
瑞典高階顯微鏡
Inspectis U30s,超高清 2160p 數碼顯微鏡 +10 屈光度額外鏡片 ...
LT-AFM/MFM | Low Temperature Microscope
1.LT-AFM/MFM:免對準AFM系統,配備光纖干涉儀工作波長為 1310 nm,雜訊等級為 15 fm/√Hz,工作範圍為 20mK-300K,磁場高達 16T。光纖干涉儀透 ...
LT-APO Objectives | Low Temperature Objective
低溫APO物鏡(IR – NIR – VIS)
LT-SHPM/STM | Low Temperature Microscope
LT-SHPM:借助微米級半導體霍爾感測器探頭,LT-SHPM 使用戶能夠將表面霍爾電壓 VH 反映為位置函數,從而直接給出局部磁感應強度的空間分佈。
LT-STM:運行頻率低至 1 ...